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產(chǎn)品展示/ PRODUCTS PLAY
產(chǎn)品分類(lèi) / PRODUCT
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描述：hast壽命試驗箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化試驗箱，是一種常用的電子元器件可靠性測試設備。它主要用于模擬高溫高濕環(huán)境下的加速老化條件，以評估電子元器件在惡劣環(huán)境下的可靠性和壽命。在HAST壽命試驗中，樣品通常放置在密封的試驗室中，具有溫度和濕度控制功能。試驗箱還可能包括振動(dòng)或機械應力等其他環(huán)境因素，以更準確地模擬真實(shí)工作環(huán)境。
產(chǎn)品型號：DX-HAST350C廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2023-08-14訪(fǎng)問(wèn)量：279
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION| 品牌 | 德祥儀器 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 能源,電子,冶金,電氣,綜合 | 溫度范圍 | +100℃～+132℃ |
| 濕度范圍 | 70%~100% | 濕度控制穩定度? | ±3%RH |
| 使用壓力? | 1.2~2.89kg(含1atm) | 壓力波動(dòng)均勻度? | ±0.1Kg |
hast高壓加速老化試驗箱設備特點(diǎn)：
1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結構，降低了使用故障率。
2)獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3)門(mén)鎖省力結構，解決第一代產(chǎn)品圓盤(pán)式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。
4)試驗前排冷空氣；試驗中排冷空氣設計(試驗桶內空氣排出)提高壓力穩定性、再現性.
5)超長(cháng)效實(shí)驗運轉時(shí)間，長(cháng)時(shí)間實(shí)驗機臺運轉400小時(shí).
6)水位保護，透過(guò)試驗室內水位Sensor檢知保護.
7)tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.
8)二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
9)安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .
10)偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）
11)USB導出歷史記錄數據，曲線(xiàn).
hast蒸汽老化試驗箱用途：
加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。用于調查分析何時(shí)出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗。隨著(zhù)半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長(cháng)期的THB試驗而不會(huì )產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應增加了許多。
hast壽命試驗箱（Highly Accelerated Stress Test），也叫做快速老化試驗箱，是一種常用的電子元器件可靠性測試設備。它主要用于模擬高溫高濕環(huán)境下的加速老化條件，以評估電子元器件在環(huán)境下的可靠性和壽命。
hast壽命試驗箱采用高壓飽和蒸汽的方式，將樣品置于高溫高濕環(huán)境中，并施加一定的電氣應力，以模擬真實(shí)環(huán)境中的潮濕條件。通過(guò)加速老化過(guò)程，可以在相對較短的時(shí)間內觀(guān)察到可能會(huì )發(fā)生的故障和退化現象，從而提前檢測和改善電子元器件的可靠性。
在HAST壽命試驗中，樣品通常放置在密封的試驗室中，具有溫度和濕度控制功能。試驗箱還可能包括振動(dòng)或機械應力等其他環(huán)境因素，以更準確地模擬真實(shí)工作環(huán)境。
HAST壽命試驗箱廣泛應用于電子元器件、半導體芯片、集成電路等領(lǐng)域的可靠性測試中。通過(guò)該設備，制造商可以評估產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的性能和壽命特性，優(yōu)化產(chǎn)品設計和生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，以滿(mǎn)足市場(chǎng)需求和用戶(hù)期望。
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